Рентгеновский дифрактометр ULTIMA IV

ULTIMA IV

Новый многофункциональный прибор Ригаку на базе тета/тета гониометра и 3 кВт источника, соданный специально для решения самых последних задач в анализе современных материалов

Компания Ригаку впервые представила свою новую модель Ultima IV на Рентгеновской конференции в Денвере, чем еще раз доказала общественности быстроту своей реакции, как компании-производителя, следовать последним тенденциям в исследованиях материалов и даже опережать их. Так революционным шагом в развитии аппаратных возможностей современных дифрактометров стало внедрение методов SAXS, малоуглового рентгеновского рассеивания, и in-plane, анализа в плоскости, в стандартную конфигурацию q/q дифрактометра. Теперь нет необходимости покупать два прибора или рисковать с синхротроном для решения такого рода задач.

Опция SAXS была внесена Ригаку в ответ на необходимость исследования наноструктурных материалов. Для лучшего понимания всей морфологии наноструктурной системы необходим анализ и малоуглового и большеуглового диапазона углов кривой рассеивания. Малоугловое рассеивание применяется для определения дальнего порядка, включая определение взаимодействия между частицами и их размер. Большеугловой диапазон открывает фазовый состав анализируемого материала, размер кристаллитов, степень кристаллизации и др. Оба эти метода, также как и другое аналитическое оборудование, помогает охарактеризовать физические размеры наночастиц. SAXS-опция также расширена и для режима отражения при исследовании размера частиц и пор в тонких пленках на подложках, в том числе и в поверхности жидкостей.

Приставка для рассеивания в плоскости с вращением детектора параллельно поверхности анализируемого образца также расширяют возможности анализа тонких пленок. В то время, пока большинство лабораторных исследований проводятся в стандартной геометрии, анализ на синхротроне обладает преимуществом в методе рассеивания для получения информации непосредственно с поверхности образца тонкой пленки. Поскольку пленки становятся все тоньше, ренгенодифракционные методы в стандартной геометрии либо дают слабую информацию, либо запутанную вследствие малых размеров кристаллитов или аморфности структуры. Многие свойства материалов обусловлены состоянием структуры в плоскости, нежели от структуры в поперечном ей направлении.
При появлении дифрактометра Ultima IV дифрактометрические исследования в плоскости могут быть теперь проведены в лабораторных условиях. Такие исследования могут помочь в построении функции фазового состава по глубине анализируемого слоя, в определении преимущественных ориентировок, внутренних напряжений и пр. Нет и необходимости менять такую приставку под стандартные эксперименты, достаточно лишь изменит систему щелей.
Ultima IV Ригаку, как и младшие модели, имеет возможность быстрого изменения схемы фокусировки: расходящегося / параллельного пучка. Новая перекрестная оптика (комбинированная оптическая система), разработанная Ригаку, позволяет использовать либо одну, либо другую схему фокусировки в одном оптическом модуле. А изменение схем происходит одним быстрым поворотом фокусирующего зеркала с изогнутой поверхности на плоскую без какой-либо другой дополнительной перестройки «железа».

• Оптика для малоуглового рассеивания
• Анализ при высоких температурах
• Одновременное проведение рентгеноструктурного и дифференциального калориметрического анализа
• Max-Flux® оптика для рентгеновской рефлектометрии и задач тонких пленок
• Пространственный детектор для специальных задач

• Порошки (поликристаллические, массивные материалы)
• Тонкие пленки (сегнетоэлектрики, магниты, и др.)
• Массивные монокристаллы
• Жидкости

• Расходящийся и стандартный параллельный пучок
• Параллельный пучок
• Параллельный пучок высокого разрешения

• Идентификация фаз
• Кристаллические структуры
• Размер кристаллитов
• Преимущественные ориентации
• Совершенство кристаллической структуры
• Степень кристаллизации
• Остаточные напряжения
• Функция радиального распределения
• Ориентация и структура тонких пленок
• Распределение размеров наночастиц и пор
• Многослойные структуры (толщина, плотность, шероховатость)
• Одновременный рентгеноструктурный и калориметрический анализ